11月27日早间消息（杨笑）在上周召开的由工信部电信研究院和TD技术论坛联合主办的“2012TD-LTE测试技术研讨会”上，工业和信息化部科技司处长董晓鲁表示，TD-LTE如果要成功实现产业化和全球化的目标，就需要整个TD-LTE产业端到端的成熟。但是，TD-LTE的终端芯片和测试仪表还是产业链相对薄弱的环节。
 
“TD-LTE系统可能跟FDD系统成熟度差不多，但测试终端芯片、仪表跟FDD相比还是有一定的差距。”董晓鲁认为，“当前是TD-LTE走向成熟商用的一个关键环节，希望产业链各方抓住机遇，加快TD-LTE测试技术和仪表产品的成熟。”
 
针对TD-LTE终端这个产业的关键和薄弱环节，他建议各测试仪表企业能够抓住重点，积极投入TD-LTE测试终端和测试仪表研发的工作。
 
据董晓鲁介绍，为了满足市场的需求，TD-LTE的终端具有多频多模的特点，这给仪表和开发也带来了更高的要求，这就需要各个企业能够把握商用终端与芯片产品的实际需求，开发出全面完善的测试手段，为产品研发提供有力的支撑。
 
另外，除了终端仪表、一致性测试仪表等产品开发外，他强调，要重视组网、网优网规相关的仪表和软件开发。“因为实际上在扩大规模实验中，有两个重要的目标，一是要促进终端芯片的成熟，尤其是手机智能终端的成熟；二是要验证和完善TD-LTE的组网性能，未来网络的发展，对路测仪表、网络优化和规划软件产品等有非常迫切的需求，希望相关的企业加大研发力度，来满足TD-LTE未来网络建设的需要。”